開閉装置のテスト

開閉器および遮断器の信頼性と安全性を確保するためには、開発目的のR&D開発施設と認証のための独立した試験ハウスの両方で、該当する規格に対する試験を実施する必要があります。これらの機器が国の経済に与える重要性から、これらの機器がどのように動作すべきか、またどのように試験されるべきかに関する厳格な規制が定められています。「短絡試験連絡会（STL ）」は、「高出力研究所のデータ処理方法の調和」という国際的に認められた報告書を作成しました。本標準規格は、デジタル化された情報中の値のどこでどのように測定するかに関する一連の規則を記述しています。

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electric power testing - switchgear testsing 01

課題

電力システムにおいて、開閉装置とは、電気機器の制御、保護、絶縁に使用される電気的な切断スイッチ、ヒューズまたは回路ブレーカーの組み合わせです。開閉装置は、作業を可能にするために機器の通電を解除したり、下流の障害を取り除くために使用されます。

開閉装置試験での測定中、接点は開放（O）され、閉鎖（C）され、再び開放（O）された試験の種類に応じて、これをOCまたはOCO測定と呼びます。

接点の動きは通常、電気信号を使用して制御されます。
これらの信号は、開閉する回路のメカニカルスイッチ内の接点の移動を開始します。

中・低電圧の開閉装置の測定では、接点の正確な位置を登録するための信号が利用できないことが多いため、開閉動作と接点の接触または分離の測定タイミングとの間の時間は、まず無負荷試験で決定されます。

これらの変数は、その後、全負荷（短絡）テストに使用できます。

研究開発および認証プロセスの両方で調和の取れた試験を可能にするため、必要な解析手順はSTL手順に定められています。

The HBM Solution

The Perception Switchgear application allows easy setup of the testing routine by providing the user with an interface to identify his type of switchgear and type of test.

For the type of switchgear one has the choice for single or three phases, using travel and/or open-close signals and the applicable mains frequency required for some STL calculations.

The corresponding circuit is shown to conveniently select and connect the appropriate DAQ hardware channels and finalizing the setup by choice of required test type and equipment related variables.

Based on selected configuration, all required formulas and equations will be written to the Perception formula database which allows the user to review any calculations used improving test transparency, troubleshooting and auditability.

Data display and result tables are automatically populated with most used variables for easy reporting and can be adapted to further application or customer requirement:

サポートハードウェア

HBK開閉装置試験ソリューションはソフトウェアによって駆動されますが、このアプリケーションでは高電圧と高電流を安全に取得し、試験手順そのものを正しく安全に制御するために、一連の特定のハードウェアが必要です。

収集

Genesis Highspeed DAQハードウェアは、すべての関連データを1つのイベントも見逃すことなく確実にキャプチャします。特に、テスト対象のデバイスに破壊的な影響を与える可能性のあるテストを実行する場合に有効です。
システムは、6600シリーズ光ファイバ絶縁デジタイザと組み合わせることで、オペレータ、機器にとって最大限の安全性を確保し、測定信号の信頼性の高い、騒音のない伝送を実現します。

試験管理

BE3200試験シーケンサは、低電圧/高電圧および高出力の実験室での試験に使用されるデバイスの正確な動作タイミングを提供する高速コントローラです。

この目的のために、最大 64個の光絶縁出力が用意され、広範なインターロッキングと安全特徴があります。BE3200のタイミングパターンは、メイン発振器、外部メインに同期することも、内部タイマーから取得することもできます。出力はプログラムされたシーケンスでオン/オフを切り替え、完全に同期されます。同期信号は入力信号周波数を追跡する。BE3200のすべての出力と入力は光ファイバで絶縁されています。

これらすべては、シーケンサー制御専用のPerception項内で設定でき、議論されているスイッチ試験アプリケーションにリンクされています。

遮断器は過負荷や短絡による過剰電流に対する保護が必要な電気回路がある場所ならどこにでも存在します。半導体保護に使われる指の爪ほどの大きさの装置から、都市に電力を供給する高圧回路を保護するために設計されたトラックほどの大きさの装置まで、大きさも容量もさまざまです。

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